應(yīng)用電子元器件篩選的高低溫濕熱試驗(yàn)箱

　　電子元件是高低溫濕熱試驗(yàn)箱的基礎(chǔ)，在使用過程中由于其固有缺陷或制造過程控制不當(dāng)，可能會(huì)導(dǎo)致與時(shí)間或應(yīng)力相關(guān)的故障。為了保證整批零件的可靠性，滿足整機(jī)的要求，有必要在使用條件下拆除早期可能出現(xiàn)故障的零件。零件的故障率可以隨著時(shí)間的推移而使用。“浴缸曲線”描述故障率曲線。隨著時(shí)間的推移，早期故障率迅速下降，在使用壽命(或意外故障期)內(nèi)故障率基本保持不變。

　　1.高溫貯存

 

　　大多數(shù)電子元件的故障都是由其機(jī)體和表面的各種物理原理引起的。.這些變化是由化學(xué)變化引起的，與溫度密切相關(guān)。當(dāng)溫度升高時(shí)，化學(xué)反應(yīng)速度大大加快，破壞過程也加快。使有缺陷的零件能夠及時(shí)暴露，待拆除。

 

　　2.功率電老煉

 

　　在高低溫濕熱試驗(yàn)箱篩選過程中，在熱電應(yīng)力的共同作用下，可以很好地暴露組件內(nèi)部和表面的各種潛在缺陷，這是一個(gè)重要的可靠性篩選項(xiàng)目。

 

　　一般情況下，各種電子元件的額定功率老化時(shí)間為168小時(shí)，有些產(chǎn)品，如集成電路，不能隨意改變條件，但可以利用高溫工作改善工作溫度，實(shí)現(xiàn)高應(yīng)力狀態(tài)。選擇合適的電壓組件可以等于或略高于額定條件，但不能吸引新的故障機(jī)制。

 

　　3.溫度循環(huán)

 

　　電子產(chǎn)品在高低溫濕熱試驗(yàn)箱使用過程中會(huì)遇到不同的環(huán)境溫度條件。在熱膨脹和冷縮應(yīng)力的作用下，熱匹配性能差的部件容易失效。極高溫和極低溫之間的熱膨脹和冷縮應(yīng)力可以通過溫度循環(huán)篩分有效消除熱性能缺陷的產(chǎn)品。常用的成分篩選條件為-55~+125℃，循環(huán)5~10次。

 

　　4.零件篩選的必要性

 

　　電子設(shè)備的固有可靠性取決于產(chǎn)品的可靠性設(shè)計(jì)。由于人為因素或原材料，在產(chǎn)品制造過程中，工藝條件隨著設(shè)備條件的波動(dòng)，成品不可能達(dá)到預(yù)期的固有可靠性。

 

　　高低溫濕熱試驗(yàn)箱能否可靠工作，取決于電子元器件能否可靠工作。如果在整機(jī)設(shè)備上安裝早期故障部件，整機(jī)設(shè)備的早期故障率會(huì)大大提高，其可靠性無法滿足要求，需要付出巨大的維修費(fèi)用。